Stykowy pomiar nierówności powierzchni i konturu za pomocą systemu Waveline

Stykowy pomiar nierówności powierzchni i konturu za pomocą systemu Waveline

20/05/2019
www.ita-polska.com.pl/product/8/waveline-w800rc-w900rc

Waveline W800RC firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do stykowego pomiaru nierówności powierzchnikonturu.

Modułowa konstrukcja urządzenia i wszechstronne oprogramowanie zapewniają elastyczność aplikacyjną i możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu podstawowego, chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych, takich jak: odległości, kąty, promienie, itp. Koncepcja “plug and measure” pozwala na indywidualną konfigurację urządzenia.

W najnowszej generacji urządzeń serii Waveline do pomiaru konturu i chropowatości głowice pomiarowe charakteryzują się zwiększoną rozdzielczością, co pozwala przeprowadzać jeszcze dokładniejsze pomiary. Kilkukrotnie wyższe prędkości pozycjonowania powalają skrócić czas trwania programu pomiarowego do minimum.

Cechy produktu:

  • pomiar metodą stykową
  • intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS, dostępne w języku polskim
  • duży zakres pomiarów chropowatości do 1600 µm
  • duży zakres pomiaru konturu (60 mm ze stałą rozdzielczością 10 nm)
  • oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
  • wyposażony w kontroler do szybkiego pozycjonowania osi
  • możliwość zastosowania zarówno w laboratorium jak i w hali produkcyjnej