Stykowy pomiar nierówności powierzchni i konturu za pomocą systemu Waveline

Waveline W800RC firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do stykowego pomiaru nierówności powierzchni i konturu.

Modułowa konstrukcja urządzenia i wszechstronne oprogramowanie zapewniają elastyczność aplikacyjną i możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu podstawowego, chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych, takich jak: odległości, kąty, promienie, itp. Koncepcja “plug and measure” pozwala na indywidualną konfigurację urządzenia.

W najnowszej generacji urządzeń serii Waveline do pomiaru konturu i chropowatości głowice pomiarowe charakteryzują się zwiększoną rozdzielczością, co pozwala przeprowadzać jeszcze dokładniejsze pomiary. Kilkukrotnie wyższe prędkości pozycjonowania powalają skrócić czas trwania programu pomiarowego do minimum.

Cechy produktu:

• pomiar metodą stykową
• intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS, dostępne w języku polskim
• duży zakres pomiarów chropowatości do 1600 µm
• duży zakres pomiaru konturu (60 mm ze stałą rozdzielczością 10 nm)
• oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
• wyposażony w kontroler do szybkiego pozycjonowania osi
• możliwość zastosowania zarówno w laboratorium jak i w hali produkcyjnej