Oxford Instruments – nowe urządzenie do pomiaru grubości powłok i analizy materiałów

Oxford Instruments wprowadził na rynek nowe urządzenie do pomiaru grubości powłok i analizy materiałów. Urządzenie mierzy powłoki z użyciem skali nanometrycznej oraz określa skład elementów na poziomie śladowym. Model ten pozycjonowany jest w średnim i wysokim segmencie cenowym. – Naszym celem był rozwój wysokiej jakości miernika grubości i analizatora powłok, przy zachowaniu łatwości jego użytkowania.  MAXXI 6 oferuje połączenie cech, które nie było do tej pory dostępne na rynku – mówi Olaf Neuhausen, Dyrektor Zarządzający Oxford Instruments Roentgenanalytik GmbH, centrum kompetencyjne Oxford Instruments ds. laboratoryjnej technologii XRF.

Pomiar grubości powłok oparty na fluorescencji rentgenowskiej (XRF) jest powszechnie przyjętą i przemysłowo sprawdzoną techniką analityczną, oferującą łatwą w użyciu, szybką i nieniszczącą analizę. Nie wymaga ona przygotowywania próbki lub wymaga jej jedynie w niewielkim stopniu. MAXXI 6 jest w stanie analizować ciała stałe i ciecze w szerokim zakresie elementów od ¹³Al do ⁹²U. W połączeniu z wysokorozdzielczym detektorem SDD  może mierzyć powłoki z nanometryczną dokładnością oraz określać skład elementów na poziomie śladowym, co wykorzystywane jest np. w przemyśle galwanotechnicznym i produkcji płytek obwodów drukowanych. Osiem wymiennych kolimatorów spełnia potrzeby związane z zakresem zastosowań; detektor SDD gwarantuje optymalną wydajność na wszystkich poziomach zdolności rozdzielczej aż do 140 eV. Przy nieograniczonym wyborze elementów i struktur powierzchni do pomiaru grubości i analizy składu MAXXI 6 zapewnia wysoką jakość badania w sektorze wykończenia elementów metalowych, elektroniki, testów zgodności, stopów metali i energii alternatywnych.